LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現(xiàn)性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀，采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利；PIDS技術(shù)（4953978，5104221），真正實現(xiàn)10nm粒徑二兩；直觀的軟件和觸摸屏設(shè)計，大大簡化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開啟全新的測量體驗！

 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

1、寬測量范圍：10nm~3,500μm

提供真實（峰值）、高分辨率的測試數(shù)據(jù)，下限低至10nm，上線高達3,500μm。

2、升級版PIDS技術(shù)：偏振光強度差散射

提高原始數(shù)據(jù)檢測精度，提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏度，真正實現(xiàn)亞微米級力度分析 – 以往極難達到的測量能力

3、多峰自動檢測

測量前無需估計粒度分布情況（比如多峰、窄分布），便可獲得正確的測量結(jié)果。

4、簡單、直觀的操作軟件

      ·   從開始測量到獲得結(jié)果僅需2次點擊

      ·   包含一個集成的光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫

      ·   隨時向您通報有用的用戶診斷報告

      ·   精簡的工作流不僅易于使用，更節(jié)省時間

驗證

這是《生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范（GMP）》和其它法規(guī)要求所必須的。

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序，可滿足安裝驗證（IQ）和運行驗證（OQ）所需。

簡單易用的軟件

簡化您的日常工作

比以往更高效的粒度分析

LS 13 320 XR軟件的功能界面更加直觀，非常易于使用，您無需具備大量的操作知識便可輕松獲得準確的數(shù)據(jù)。

開始測量

檢測方法一旦在LS 13 320 XR軟件中設(shè)定，僅需點擊2次便可開始測量。選擇預(yù)先設(shè)定的方法，編輯樣品信息，然后點擊開始測量。

儀器自檢結(jié)果

儀器配備有自檢診斷功能，測試過程中隨時顯示測量情況。

自動合格/不合格管理、實驗直接質(zhì)控

為檢驗樣品合格/不合格，LS 13 320 XR軟件自動對測量結(jié)果標注綠色或紅色，提示其是否符合所需規(guī)格。因此，無論操作人員經(jīng)驗如何，均可通過該功能迅速了解樣品質(zhì)量情況。

導航輪

顯示和導出數(shù)據(jù)僅需點擊1次。

重磅創(chuàng)新

幫助您準確測量細微差異

細節(jié)尤為重要！樣本間極細微的差異，會導致成品間出現(xiàn)巨大差異。

這也是為什么LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀采用132枚檢測器的原因，其可以提供更高的分辨率，獲得更準確的檢測結(jié)果，同時實現(xiàn)10nm-3,500μm的寬范圍測量。

X-D陣列檢測器-確保高分辨率的準確測量

·   設(shè)計的X型對數(shù)排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，獲得真實準確的粒度分布

·   132枚檢測器能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，快速、準確的提供真實粒度分布

·   優(yōu)化的檢測器信噪比，大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力

·   亞微米檢測區(qū)域，應(yīng)用6枚檢測器對三種不同波長的光在垂直和水平偏振方向上進行36個單獨檢測，提供納米級顆粒優(yōu)異的準確性和高分辨率

多峰樣品自動檢測，更放心

·   憑借業(yè)界出眾的技術(shù)，無需預(yù)估樣品峰型，無需選擇分析模型，輕松準確分析多峰樣品，讓您對測試結(jié)果更放心

·   準確性誤差優(yōu)于±0.5%

·   重復(fù)性誤差優(yōu)于±0.5%

重磅創(chuàng)新

真正實現(xiàn)納米級測量

創(chuàng)新不止，重磅升級，基于升級版PIDS技術(shù)，LS 13 320 XR真正實現(xiàn)納米級測量，提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析，下限可準確檢測至10nm！

PIDS技術(shù)：偏振光強度差散射

傳統(tǒng)方法測量亞微米顆粒的散射光強譜圖在形狀和強度上都非常相似，區(qū)分比較困難，因此當測量亞微米顆粒時，優(yōu)于分辨率低而造成不準確的粒度測量。

而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。PIDS技術(shù)采用了3種不同波長的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，然后為水平偏振，通過分析每個波長的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準確的粒度分布信息。升級版PIDS技術(shù)從光源到濾波器再到檢測器都進行了全面的升級，使得測量亞微米顆粒的動態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。

LS 13 320 XR光學平臺進樣模塊及配件

LS 13 320 XR技術(shù)參數(shù)

美國貝克曼庫爾特公司于1997年由貝克曼公司和庫爾特公司合并成立，貝克曼庫爾特研發(fā)專家以其嚴謹、專業(yè)的態(tài)度，陸續(xù)不斷地開發(fā)出一系列優(yōu)異的*的技術(shù)，為全球的用戶奉獻出一款款令人矚目的產(chǎn)品：新一代高分辨率的庫爾特顆粒計數(shù)及粒度分析儀Multisizer 4e、PIDS的多波長激光衍射粒度分析儀LS系列、快速Zeta電位及納米粒度分析儀DelsaMax系列等。

擁有數(shù)十年顆粒表征分析歷史的貝克曼庫爾特公司始終專注于為全球用戶創(chuàng)造更多的價值。眾多應(yīng)用領(lǐng)域如食品、制藥、化工等和國際組織如美國ASTM，國家航空航天局（NASA）等均將貝克曼庫爾特的技術(shù)和產(chǎn)品定為標準方法或質(zhì)量控制的專用儀器。秉承“為全球客戶提供富于創(chuàng)新和值得信賴的科學解決方案"的使命，貝克曼庫爾特不忘初心，不斷創(chuàng)新，致力于為客戶提供完整高效的顆粒表征及粒度分析解決方案。